دکتر علی بیت اللهی، رئیس کمیته استانداردسازی فناوری نانو در این همایش پیرامون مبحثی با عنوان «ایجاد نظام ملی مترولوژی در حوزه فناوری نانو؛ الزامات و راهکارها» سخنانی ایراد نمود.
وی در ابتدا ضمن معرفی ستاد ویژه توسعه فناوری نانو و کمیته استانداردسازی فناوری نانو، به بیان دستاوردها و فعالیتهای آنها پرداخت. سپس علم اندازهشناسی در حوزه نانوفناوری (نانومترولوژی)، تعاریف، انواع، اهمیت و ضرورت آن را برای حاضرین تشریح نمود و فعالیتهای در حال انجام سایر کشورها در حوزه نانومترولوژی را بیان کرد.
دکتر بیتاللهی در ادامه الزامات و نیازمندیهای پیادهسازی نظام ملی مترولوژی در حوزه فناوری نانو و برنامههای پیشنهادی خود بدین منظور را تشریح کرد و بمنظور ارائه راهکار اجرایی، پیشنهادی مبنی بر تشکیل «کمیته مشترک راهبردی نانومترولوژی» با حضور نمایندگان ستاد نانو و سازمان ملی استاندارد به مدیران این سازمان ارائه نمود.
رئیس کمیته استانداردسازی فناوری نانو در پایان ابراز امیدواری کرد که با همکاری مشترک سازمان ملی استاندارد و ستاد نانو بتوان گامهای مؤثری در جهت دستیابی به نظام ملی نانومترولوژی در ایران برداشت.
گفتنی است در پایان پنجمین همایش روز جهانی اندازهشناسی از پیشکسوتان علم اندازهشناسی در کشور تجلیل بعمل آمد و از تندیس پرفسور حسابی نیز رونمایی شد.